知的財産ニュース 特許庁、2018年上半期の優秀な審査官・審判官を選定

韓国特許庁は8月7日（火曜）午後4時、政府大田庁舎大会議室で高品質の審査を行い、審査品質の向上に寄与した優秀な審査官などを選定し、授賞する。

最優秀審査官にはオ・グタク審査官（商標デザイン審査局）、イ・ヨンホ審査官（特許審査企画局）、ナム・ベイン審査官（特許審査1局）、イ・ヘイン審査官（特許審査2局）、イ・ソンヒョン審査官（特許審査3局）が、最優秀審判官にはペク・ヨンラン審判官（審判7部）が選定された。

この他、審査分野で優秀審査官40人（最優秀審査官を含む）、優秀審査パート長15人、スキルアップ優秀審査官8人、優秀審査部署10部署、品質プラス優秀審査パート2つを、審判分野で優秀審判官6人（最優秀審判官を含む）、優秀訴訟遂行官1人、優秀審判部2部を選定した。

特許庁は審査・審判の品質コンテストを開催し、個別審査案件に対する審査評価の結果、各種審査品質の指標および品質向上への努力度を反映し、受賞者を選んだ。

今年からは審査の実体的な部分に対する審査品質を高めるために、進歩性の判断をめぐる争点に関する優秀な進歩性の判断ガイドラインを設けた2つの審査パートに「品質プラス優秀賞」を授与することにした。

特許庁長は「今年上半期に審査品質に関する革新方策を設けており、下半期からは審査品質の革新に向けた取り組みを本格化する」と強調し、「パート長を中心とする協議の活性化を促進し、審査の脆弱な部分について企画的に診断し、誤った審査慣行を改善するなどして、国民が体感できるように審査品質の向上に努めてほしい」と訴えた。