政府公共調達データベース
国立大学法人 - 資料提供招請に関する公表サステナブルエレクトロニクス分析装置一式
本調達はWTOの政府調達に関する協定、日EU経済連携協定又は日英包括的経済連携協定の適用を受ける調達です。
| 公示日/公告日 | 2025年12月22日 |
|---|---|
| 公示の種類 | 資料提供招請に関する公表 |
| 調達機関 | 国立大学法人(山形県) |
| 分類 |
0026 その他物品 |
| 本文 |
資料提供招請に関する公表 次のとおり物品の導入を予定していますので、当該導入に関して資料等の提供を招請します。 令和7年 12 月 22 日 国立大学法人山形大学 米沢キャンパス長 黒田 充紀 ◎調達機関番号 415 ◎所在地番号 06 ○第5号 1 調達内容 ⑴ 品目分類番号 26 ⑵ 購入等件名及び数量 サステナブルエレクトロニクス分析装置 一式 ⑶ 調達方法 購入等 ⑷ 導入予定時期 令和9年5月以降 ⑸ 調達に必要とされる基本的な要求要件 A サステナブルエレクトロニクス分析装置は、透過型電子顕微鏡(TEM)、X線小角散乱装置(SAXS)、X線光電子分光装置(XPS)それぞれを有すること。 B TEMはサブナノメートル解像度の高分解能観察および元素分析が可能であること。 C SAXSは以下の3つの測定がそれぞれ可能であること。①回転対陰極型X線源と、高強度ラインビームの照射において分解能・強度の高い2次元回折像を得るためのスリットを用いたGI-SAXS/WAXS測定。②回転対陰極型X線源とコンフォーカルミラー、円形ピンホールスリットによる光学系を用いて、大気環境下で自作アタッチメントを使用するための大型試料室に対応した測定。③2θ=60°以上の2次元回折像の同時測定。 D XPSは材料表面および界面の元素組成や化学結合状態を高感度に解析可能であること。 2 資料及びコメントの提供方法 上記1⑵の物品に関する一般的な参考資料及び同⑸の要求要件等に関するコメント並びに提供可能なライブラリーに関する資料等の提供を招請する。 ⑴ 資料等の提供期限 令和8年1月22日12時00分(郵送の場合は必着のこと。) ⑵ 提供先 〒992―8510 山形県米沢市城南4―3―16 山形大学米沢キャンパス事務部会計課財務会計担当 鈴木 洋一 電話0238―26―3009 3 説明書の交付 本公表に基づき応募する供給者に対して導入説明書を交付する。 ⑴ 交付期間 令和7年12月22日から令和8年1月22日まで。 ⑵ 交付場所 上記2⑵に同じ。 4 説明会の開催 本公表に基づく導入説明会を開催する。 ⑴ 開催日時 令和8年1月8日14時00分 ⑵ 開催場所 山形大学工学部事務棟1階ミーティングルーム 5 その他 この導入計画の詳細は導入説明書による。なお、本公表内容は予定であり、変更することがあり得る。 |



