知的財産ニュース 劉俊臣SAIC副局長、フランス産業財産権庁のラピエー長官と面会

2014年12月17日
出所: 工商総局公式サイト

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12月5日、国家工商行政管理総局(SAIC)の劉俊臣副局長とフランス産業財産権庁(INPI)のイフ·ラピエー長官は北京で面会した。

劉副局長は、中国の商標登録·保護活動の進捗状況を説明し、フランス国立偽造品防止委員会(CNAC)と2009年に協力覚書を締結して以来の一連の交流活動を回顧した後、市場参入や独占禁止、消費者保護などの分野でフランス関係部門と交流、協力を展開し、両国の経済、貿易の発展を絶えず推進していきたいと表明した。

ラピエー長官は、両国の関係部門間の全方位的協力関係を評価した。さらに、意思疎通と協力をさらに強化し、商標登録·管理、知的財産権保護など業務に関する協力事業の協調、促進に努めてほしいと期待を示した。

会談に先立ち、ラピエー長官と商標局の責任者は中国フランス商標作業部会第21回会合に出席し、職員研修、商標検索データバンクの利用、地理的表示などのテーマを巡って踏み込んだ交流を行った。

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