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知的財産ニュース 国家知識産権局、湖北省で特許巡回審査を試行

2013年8月12日
出所: 国家知識産権網

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湖北省知識産権局の招待に応じて国家知識産権局光電子発明審査部の審査官が武漢を訪れ、光電子分野の特許出願巡回審査を実施した。湖北省の知的財産権サービス機構の弁理士と発明者らが活動に参加した。

国家知識産権局光電子発明審査部の審査官は、2つの特許巡回審査グループに分かれて華中科技大学、中国地質大学、武漢理工大学、および武漢市の某企業の特許出願に対し実体審査を行った。弁理士や発明者は審査官と直接に交流し、発明の背景や技術的課題、改善の見通しなどを詳しく説明することができた上、審査官の指摘した瑕疵について現場で陳述、回答を行うことができた。

国家知識産権局は特許制度で技術イノベーション、経済発展を促進する新しいあり方を模索している。特許巡回審査は、より便利な審査サービスを発明者に提供するための国家知識産権局の新たな試みで、特許出願における問題の効果的な解決や、審査官の資質能力の総合的な向上につながることが期待される。

本ページに関するお問合せ

ジェトロ・北京事務所 知的財産部(担当:本間、水落、赤澤)
Tel:(+86)10-6528-2781(日本語可)
E-mail: PCB-IP@jetro.go.jp

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